AFM原子力显微镜的原理和应用-剂拓科技

分析原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的作用力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将在垂直于样品的表面方向起伏运动。从而可以获得样品表面形貌的信息

谱图的表示方法：微悬臂对应于扫描各点的位置变化提供的信息：样品表面形貌的信息.

AFM的扫描模式有接触模式和非接触模式，接触式利用原子之间的排斥力的变化而产生样品表面轮廓；非接触式利用原子之间的吸引力的变化而产生样品表面轮廓。