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任何定量分析方法都需要建立实验测量信号与待分析物的量的关系。很幸运的是,在质谱中,通常也可以建立这样的关系,因此质谱信号是可以用于定量的。
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Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
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