ICPMS测试(原子发射光谱质谱联用)用于检测材料微量金属元素含量,也可测定硅,硫,磷等元素.分析精度可达ppb级别。

Ø  ICP-MS原理

测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成和含量。用于微量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属和硅、磷、硫等少量的非金属。

Ø  仪器型号：Agilent 7500ce

Ø  仪器技术参数

ü  灵敏度：低质量数 Li(7):50 Mcps/ppm；

ü  检测限：低质量数Be(9):0.5ppt；中质量数In(115):0.1ppt；高质量数Bi(209):0.1ppt

ü  氧化物干扰: CeO+/Ce+:1.5 %(7700x):3.0 %(7700s)

ü  双电荷干扰: Ce2+/Ce+:3.0

ü  同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) 0.1%

ü  质谱范围：2-260 amu

ü  丰度灵敏度：低质量端：5x10-7；高质量端: 1x10-7

Ø  送样要求及注意事项

ü  液体或固体，100mg-5g之间。

ü  能全部溶解常见的无机溶剂中，如水，硫酸，盐酸，硝酸，王水等

Ø  测试实例

Ø  服务流程

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