SEM测试(扫描电镜)用于检测材料表面形貌,测试材料外观形貌;分析材料的粒径,测定元素组成及测量其分布。

Ø  SEM原理

样品表面加一个强电场，样品表面势垒降低，由于隧道效应，样品金属内部的电子穿过势垒从金属表面发射出来，这种现象称场发射。亮度高约比普通SEM高100倍，分辨率可达10nm.

Ø  仪器型号：ZEISS Merlin Compact

 Ø  仪器技术参数

ü  二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV，减速模式)

ü  放大倍率: x 20~ x 800,000

ü  电子枪: 冷场发射电子源

Ø  送样要求及注意事项

ü  粉状样品50-100mg之间

ü  块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.

ü  样品有磁性一定要告知。

Ø  测试实例

Ø  服务流程

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