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XPS测试_光电子能谱检测
XPS测试(光电子能谱)用于检测材料表面元素半定性分析,化学价态分析,腐蚀层厚度
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XPS测试(光电子能谱)用于检测材料表面元素半定性分析,化学价态分析,腐蚀层厚度。 Ø XPS原理 X射线光电子能谱(XPS),基于光电离作用,当一束光子辐射到样品表面时,光子可以被样品中某一元素的原子轨道上的电子所吸收,使该原子解脱原子核的束缚,以一定的动能从原子内部发射出来,变成自由的光电子,而原子本身则变成一个激发态的离子。当固定激发源能量时,其光电子的能量仅与元素的种类和所电离激发的原子轨道有关,由此根据光电子的结合能定性分析物质的元素种类。经X射线辐照后,从样品表面射出的光电子的强度与样品中该原子的浓度呈线性关系,可以进一步进行元素的半定量分析。另外,XPS的重要应用是对元素的化学价态进行分析。 Ø 仪器型号:Thermo Scientific K-Alpha Ø 仪器技术参数
ü 离子源:100-4000eV ü 束斑直径:1-10mm ü 溅射速率范围:0.1-50nm/min ü 采样深度:金属0.5-2nm,无机物1-3nm,有机物3-10nm Ø 送样要求及注意事项 ü 固体粉末:均匀干燥,粒度小于70um(过200目),质量不少于100 mg; ü 块体、金属及薄膜样,长宽小于10mm,高度小于5mm。 ü 含有挥发性、油污污染物的样品许提前去除. 带有磁性的样品,一定提前告知,否则设备损坏。 Ø 测试实例 Ø 服务流程 Ø 更多流变专业技术教程博客:http://blog.sina.com.cn/jituotech î 本网站内容,外观设计及视频均为上海剂拓材料科技有限公司拥有. 任何媒体、网站或个人未经上海剂拓材料科技有限公司书面授权不得转载、链接、转贴、摘编或以其他方式使用。 |