XRD测试(X射线衍射仪)用于检测物相,测定材料的晶体组成.定性,定量分析。

Ø  XRD原理

X射线衍射分析（X-ray diffraction，简称XRD），是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

Ø  仪器型号：BRUKER D8 ADVANCE

Ø  仪器技术参数

ü  小角衍射最小角可以达到0.4度，主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射：最低角度可以达到5度，可以精确接收到小于10度的衍射峰。

ü  测量精度：角度重现性±0.0001°；测角仪半径≥200mm，测角圆直径可连续变

ü  最小步长0.0001°；角度范围（2θ）：-110～168°；温度范围：室温～900℃；

ü  最大输出：3KW；稳定性：±0.01%；管电压：20～60kV(1kV/1step)；管电流：10～60mA。

Ø  送样要求及注意事项

ü  固体粉末：均匀干燥，粒度小于100um（过80目），质量不少于100 mg；

ü  块体、金属及薄膜样品：需加工出一平整的表面，尺寸约为20mm×10mm×2mm

Ø  测试实例

Ø  服务流程

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